
	Current section: Section menu: Links HOME dissertaties Zoek in dit archief Zoek in alle archieven Alle elektronische dissertaties Alle gedrukte dissertaties De laatste 20 toevoegingen Aanleverloket Versie voor Mobiel Versie voor PC Top 500 RSS alle dissertaties Economie en Bedrijfskunde Gedrags- en Maatschappijwetenschappen Godgeleerdheid en Godsdienstwetenschap Letteren Medische Wetenschappen Rechtsgeleerdheid Ruimtelijke Wetenschappen Wijsbegeerte Wiskunde en Natuurwetenschappen Over RSS Base URL voor OAI-PMH /oai/ Repository-software WildFire

| Nederlands

Defect analysis with atomic-resolution microscopy

(1992) Bakel, Gerjan Peter Eduard Maria van

This works concentrates on the manner in which defects are manifest in a number of materials....

Zie: summary

Gebruik a.u.b. deze link om te verwijzen naar dit document:

http://irs.ub.rug.nl/ppn/095052488

To top